Universidad Nacional de Luján
Catálogo Bibliográfico
Col.Esp.Iglesias/1936
Colección Especial Luis Iglesias
1.
(1) Inv.: 48.53976 S.T.: Col.Esp.Iglesias/1936
Tests para el examen de la inteligencia : I escala métrica Binet-Simon
[MONOGRAFÍA]. --Madrid :
, 1936. -- . -- (Colección Especial Luis Iglesias)Espasa Calpe Argentina
Colección Especial Luis Iglesias
1.
INTELIGENCIA
; 2.EDUCACIÓN
; 3.CIENCIA
(1) Inv.: 48.53976 S.T.: Col.Esp.Iglesias/1936
Visualización de Monografía
U. Info.
(1) [Cent]
Tipo de Material
(M) MONOGRAFÍA
Título
Tests para el examen de la inteligencia : I escala métrica Binet-Simon
Lugar
Madrid
Editorial
Fecha de Publicación
1936
Título de Colección/Serie
Notas
Colección Especial Luis Iglesias
Materias
Fecha de Alta
02/06/2023 19:37:03
Número de Registro
49300
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